1.  光管类型：Cu靶，陶瓷X光管

           光管功率：2.2kW

           高精度：小步进角度0.0001°；角度重现性0.0001°

           测角仪：高精度步径式马达控制双圆测角仪

           测角仪半径 ≥200 mm，2θ 转动范围 -10°～168°

2. 探测器：

      (1)  Dynamic Scintillation探测器

     最大计数：1×106 cps

    可进行小角、广角的测试分析

    (2)  VANTEC探测器

      最大计数：1×108 cps

      可进行广角、原位测试分析

3. 高温原位样品台（1200 ℃）

      可在N2、H2、Ar等不同气氛氛围、30-1200 ℃温度范围内原位处理样品，并对样品进行实时物相变化的测试分析，也可在真空或带压下测样。

XRD仪器主要用于粉末样品晶相的定性、定量分析、晶粒大小及微观应力分析、结晶度分析以及结构精修。

(1)粉末样品应干燥、在空气中稳定，粒度均匀小于20μm（过250-300目筛）；

(2) 常规样品测试所需样品量至少100mg（密度大的样品请适量增加样品量)，样品量极少可联系仪器负责人进行微量样品的测试

(3) 样品需具有很好射线稳定性，不会在射线照射下分解或释放有毒物质

(4) 注明扫描范围、扫描速度

(5) 原位测试注明气氛组成、温度范围及原位处理时长及测试时长等问题，建议提前与仪器负责人具体沟通联系

校内

广角测试：10-80°，50元/样

小角测试：0.5-10°，80元/样

原位测试：1000元/时

校外

广角测试：10-80°，100元/样

小角测试：0.5-10°，150元/样

原位测试：2000元/时