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原子力显微镜

仪器型号:AFM

仪器分析室:103室

安装日期:20151120

仪器点击数::

  • 仪器简介
  • 性能指标
  • 应用范围
  • 来样须知
  • 收费明细

原子力显微镜(AFM)具有以下独特的优点:原子级的高分辨率、实时成像、可以直接研究表面局域性质。它是一种跨越了光学显微镜和电子显微镜两类仪器工作范围的精密成像仪器,同时也是一种具有极高分辨率的表面性质测量仪器。得益于AFM丰富的工作模式,它被广泛应用于科学研究的各个领域,从基础的表面形貌表征到材料表面的性质分析,从材料科学到生命科学,AFM已经逐步演化为研究纳米科学的不可或缺的重要工具。

1).  系统噪音:小于0.03nm

2).  扫描范围:10×10×2.5μm

3). 成像模式:智能扫描模式,轻敲模式,接触模式,电场力显微镜,磁力显微镜,开尔文探针显微镜,扫描隧道显微镜,液相环境成像。

纳米材料表面形貌测量,表面电荷分布,表面电势,液相环境成像等;

1). 样品起伏小于2.5μm

2). 样品不能过软及过粘

校内:100/时;校外:200/时